物理機制與波形規格

深入探討非破壞性檢測背後的物理原理與數據標準。

聲阻抗與反射定律

超音波在不同介質界面上的反射與折射行為,是檢測材料內部缺陷的基礎。反射係數取決於兩側材料的聲阻抗差異。

反射係數公式:

\[ R = \left( \frac{Z_2 - Z_1}{Z_2 + Z_1} \right)^2 \]

其中 \( Z \) 為材料的聲阻抗 (\( Z = \rho \cdot v \))

當 \( Z_2 \gg Z_1 \)(如鋼/空氣界面)時,反射係數趨近於 1,這使得超音波能極其敏感地捕捉到裂紋與分層。

射線衰減模型

射線穿透物質時,其強度會隨厚度呈指數級衰減。這決定了射線檢測的靈敏度與曝光參數。

強度衰減公式:

\[ I = I_0 e^{-\mu x} \]

其中 \( I_0 \) 為初始強度,\( \mu \) 為線性衰減係數,\( x \) 為穿透厚度。

數位射線技術 (DR) 透過捕捉微小的強度差異,實現對材料內部夾渣、氣孔的微米級影像識別。

渦電流穿透深度

渦電流檢測的有效深度受頻率、電導率與磁導率的影響,即所謂的「趨膚效應」。

標準穿透深度 (Skin Depth):

\[ \delta = \frac{1}{\sqrt{\pi f \mu \sigma}} \]

其中 \( f \) 為頻率,\( \mu \) 為磁導率,\( \sigma \) 為電導率。

調整檢測頻率可實現對不同深度缺陷的選擇性掃描。

技術數據標準

參數項目 標準規格 精度/限值
最小缺陷檢出限 (POD) ASTM E2905 0.1 mm (裂紋)
掃描步進精度 Encoder Sync ± 10 μm
數位射線空間解析度 ISO 19232-5 < 50 μm
防護劑量標準 ICRP 103 < 20 mSv/year
信雜比 (SNR) 要求 ASME Sec V > 12 dB